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| 제품사진 | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 기기명(한글) | 원자힘현미경(AFM) | ||||||||
| 기기명(영문) | AFM(Atomic Force Microscope ) | ||||||||
| 모 델 | Dimension Edge AFM | ||||||||
| 제작사 | BRUKER ( 미국 ) | ||||||||
| 도입시기 | 2019. | ||||||||
| 담당자 | xxx / 김민주 (3434) | ||||||||
| 장소 | B동 212-1호 | ||||||||
| 사 용 료 |
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| 특기사항 |
나노소재의 표면 형상과 물리적 전기적 특성을 측정하기 위한 장치로 나노 스케일의 표면의 형상과 동시에 탄성, 마찰력, 자기장, 전기적 특성 등의 표면 특성을 측정할 수 있는 장치이다. 화학, 재료, 전자, 생물학 및 다양한 소재의 표면 분석이 가능하다. |
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| 원리 | AFM tip을 지지하는 cantilever가 특정 공진 주파수를 갖고 샘플 표면을 scanning하며 샘플 표면의 원자와 tip간 상호 작용의 결과 변조된 공진 주파수를 transducer를 통해 신호를 변환하여 표면의 요철, 경도, 전자기적 물성 등에 대한 정보를 취득하게 된다. | ||||||||
| 유저그룹 |
김동하, 박소정, 정병문, 현가담, 김우재 |
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