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| 제품사진 | |
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| 기기명(한글) | 투과전자현미경 (LaB6) |
| 기기명(영문) | Transmission electron microscopy |
| 모 델 | JEM-2100Plus |
| 제작사 | JEOL |
| 도입시기 | 2019.02 |
| 담당자 | 박재용 / 박재용 (3095) |
| 장소 | D동 DB208호 |
| 사 용 료 |
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| 특기사항 |
Acceleration voltage : 80 to 200kV Lattice resoluition : 0.23nm Point resoluton : 0.14nm Magnification : x50 ~ x1,500,000 |
| 원리 | 200kV의 고전압으로 집속된 전자빔을 시료에 투과시켜 미세조직관찰, 결정구조 등의 정보를 분석할수 있다. |
| 유저그룹 |
김동하 교수님 김성진 교수님 박소정 교수님 |
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