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| 제품사진 | |
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| 기기명(한글) | 투과전자현미경(FE-TEM) |
| 기기명(영문) | Field Emission Transmission Electron Microscopy |
| 모 델 | JEM-2100F |
| 제작사 | JEOL( 일본) |
| 도입시기 | 2007.9 |
| 담당자 | 박재용 / 박재용 (3095) |
| 장소 | B동 213-1호 |
| 사 용 료 |
유저그룹(유저 직접측정포함) : 30,000원/시간 (EDS 추가 : 10,000원/시간)
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| 특기사항 |
Field emission 방식으로 인하여 높은 resoltion이 특징임. EDS를 이용한 조성 분석이 가능함. 기기 사용 예약은 https://www.zeus.go.kr/cloud/resvEq/search?cloudId=202008111710 으로 신청바람 |
| 원리 | |
| 유저그룹 |
김동하 교수님 박소정 교수님 |
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